{"product_id":"h63814-digital-oscilloskop-og-komponent-tester-128890","title":"Digital oscilloskop og komponent tester","description":"\u003cda-dk\u003e\r\n\u003cp\u003eVores DSO-LCR500 kombinerer fordelene ved et digitalt oscilloskop og en multifunktionel komponenttester i et kompakt og højkvalitets etui. Ved hjælp af det digitale oscilloskop kan ambitiøse tinkerer evaluere tidsafhængige signaler uden at skulle ty til dyr måleteknologi.\u003c\/p\u003e\r\n\u003cp\u003eDen multifunktionelle komponenttester tillader også hurtig og automatisk registrering af komponenter. Ydermere har vores DSO-LCR500 yderligere nyttige funktioner såsom en signalgenerator, en infrarød signaldekoder og måling af Zener-dioder, DS18B20-sensorer og DHT11-sensorer.\u003c\/p\u003e\r\n\u003cp\u003eEnheden er udstyret med et 1500mAh genopladeligt batteri, som bekvemt kan oplades via USB-C. Det integrerede, udfoldelige stativ letter betjeningen yderligere.\u003c\/p\u003e\r\n\u003ch2 id=\"datablad\"\u003eTekniske detaljer:\u003c\/h2\u003e\n\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003eFunktioner:\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003eDigitalt oscilloskop\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eKomponent tester\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eKontinuitetstester\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignal generator\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMåling af Zener dioder\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMåling af DS18B20 sensorer\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMålinger af DHT11 sensorer\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eInfrarød dekoder\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eStandfunktion: Integreret 90° foldbart stativ\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eBatteri: 1500mAh lithiumbatteri, genopladeligt via USB-C\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSkærm: 2,4\" TFT farveskærm, LED-baggrundsbelysning, 320x240 pixel\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTilgængelige sprog: engelsk, tysk\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSamplinghastighed: 10 MS\/s\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eAnalog båndbredde: 0 - 500kHz\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eIndgangsmodstand: 1 M?\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eKobling: AC \/ DC\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTestspændingsområde:\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003e1:1: 80 Vpp (- 40-40 V)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003e10:1: 800 Vpp (- 400-400 V)\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eLodret følsomhed: 10 mV\/Div - 10 V\/Div\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eHorisontal tidsbase: 10 ?s - 10s\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTriggertilstande:\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003eAutomatisk\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eNormal\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eEnkelt\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTriggertyper:\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003eFaldende kant\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eStigende kant\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTriode-målinger (HFE \u0026gt; 10, HFE \u0026lt; 600):\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003eAmplifikation (hFE)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003ebase-emitter-spænding (Ube)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003ekollektor-emitter omvendt\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eafskæringsstrøm (Iceo, Ices)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003ebeskyttelsesdiode fremad\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003espændingsfald (Uf)\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eDiodemålinger (fremadgående spændingsfald \u0026lt; 5 V): Fremadgående spændingsfald, krydskapacitans, omvendt lækstrøm\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eZener-diode-målinger (1 -2 -3 testområde: 0,01 - 4,5 V, K - A - A testområde: 0,01 - 24 V):\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003e1-2-3: Fremadgående spændingsfald, omvendt gennembrudsspænding\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eKAA: omvendt gennembrudsspænding\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eFelteffekttransistormålinger (JFET, IGBT, MOSFET):\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003eJFET: Portkapacitans (Cg), drænstrøm (Id ved Vgs), beskyttelsesdiode fremad\r\n spændingsfald (Uf)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eIGBT: drænstrøm (Id ved Vgs), beskyttelsesdiode fremadgående spændingsfald (Uf)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMOSFET: tændspænding (Vt), gate-kapacitans (Cg), drain-source modstand (Rds), beskyttelsesdiode fremadgående spændingsfald (Uf)\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSiliciumstyret ensretter \u0026amp; triac målinger (tænd spænding \u0026lt; 5 V, gate trigger strøm \u0026lt; 6 MA): Gate spænding\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eKondensatormålinger (25 PF - 100 MF): Kapacitet, tabsfaktor (Vloss)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eModstandsmålinger (0,01 ? - 50 M?): Modstand\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eInduktormålinger (10 uH - 1000 uH): Induktansværdi, DC-modstand\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eBatterimål (0,01 - 4,5 V): Spændingsværdi, positiv og negativ polaritet\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eIndgangsspændingsmålinger (0 - 16 V): Spændingsværdi\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignalgenerator (sinusbølge): 1 - 100kHz, 0 - 3,3 V, 50 %\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignalgenerator (firkantbølge): 1 - 100kHz, 3,3 V, 50 %\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignalgenerator (pulsbølge): 1 - 100kHz, 3,3 V, 0 - 100 %\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignalgenerator (trekantbølge): 1 - 100kHz, 0 - 3,3 V, 50 %\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignalgenerator (rampebølge): 1 - 100kHz, 0 - 3,3 V, 0 - 100 %\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignalgenerator (DC): 0 - 3,3 V\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eDS18B20 Målinger: Temperatur\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eDHT11 Målinger: Temperatur og luftfugtighed\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eInfrarød afkodning (ian protokol): Vis bruger- og datakode, vis infrarød bølgeform\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTestfunktioner: Kontinuitetstest, Spændinger op til 40 V\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTest sondeforbindelse på enheden: Micro Koaksial Connector (MCX)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eStørrelse: 180x150x77mm\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\r\n\u003c\/da-dk\u003e\r\n\r\n\u003cp\u003eOur DSO-LCR500 combines the advantages of a digital oscilloscope and a multifunctional component tester in a compact and high-quality case. With the help of the digital oscilloscope, ambitious tinkerers can evaluate time-dependent signals without having to resort to expensive measurement technology.\u003c\/p\u003e\r\n\u003cp\u003eThe multifunctional component tester also allows fast and automatic detection of components. Furthermore, our DSO-LCR500 has additional helpful functions such as a signal generator, an infrared signal decoder and measurement of Zener diodes, DS18B20 sensors and DHT11 sensors.\u003c\/p\u003e\r\n\u003cp\u003eThe device is equipped with a 1500 mAh rechargeable battery, which can be conveniently charged via USB-C. The integrated, fold-out stand additionally eases the operation.\u003c\/p\u003e\r\n\u003ch2\u003eSpecifications:\u003c\/h2\u003e\u003cul\u003e\r\n\t\u003cli\u003eFunktions: \u003cul\u003e\r\n\t\t\u003cli\u003eDigital oscilloscope\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eComponent tester\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eContinuity tester\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignal generator\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMeasurement of Zener diodes\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMeasurement of DS18B20 sensors\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMeasurements of DHT11 sensors\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eInfrared decoder\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eStand funktion: Integrated 90° foldable stand\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eBattery: 1500 mAh lithium battery, rechargeable via USB-C\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eDisplay: 2,4“ TFT color display, LED-backlight, 320x240 pixel\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eAvailable languages: English, German\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSampling rate: 10 MS\/s\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eAnalog bandwidth: 0 - 500 kHz\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eInput resistance: 1 M?\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eCoupling: AC \/ DC\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTest voltage range: \u003cul\u003e\r\n\t\t\u003cli\u003e1:1: 80Vpp (- 40 V - 40 V)\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003e10:1: 800Vpp (- 400 V - 400 V)\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eVertical sensitivity: 10 mV\/Div - 10 V\/Div\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eHorizontal time base: 10 ?s - 10s\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTrigger modes: \u003cul\u003e\r\n\t\t\u003cli\u003eAutomatic\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eNormal\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSingle\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTrigger types: \u003cul\u003e\r\n\t\t\u003cli\u003eFalling edge\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eRising edge\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTriode-measurements (HFE \u0026gt; 10, HFE \u0026lt; 600): \u003cul\u003e\r\n\t\t\u003cli\u003eAmplification (hFE)\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003ebase-emitter-voltage (Ube)\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003ecollector-emitter reverse\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003ecut-off current (Iceo, Ices)\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eprotection diode forward\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003evoltage drop (Uf)\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eDiode-measurements (forward voltage drop \u0026lt; 5 V): Forward voltage drop, junction capacitance, reverse leakage current\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eZener-diode-measurements (1 -2 -3 testing range: 0,01 - 4,5 V, K - A - A testing range: 0,01 - 24 V): \u003cul\u003e\r\n\t\t\u003cli\u003e1-2-3: Forward voltage drop, reverse breakdown voltage\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eK-A-A: reverse breakdown voltage\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eField effect transistor measurements (JFET, IGBT, MOSFET): \u003cul\u003e\r\n\t\t\u003cli\u003eJFET: Gate capacitance(Cg), drain current (Id at Vgs), protection diode forward\r\nvoltage drop (Uf)\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eIGBT: drain current (Id at Vgs), protection diode forward voltage drop (Uf)\r\n\t\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eMOSFET: turn-on voltage (Vt), gate capacitance (Cg), drain-source resistance (Rds), protection diode forward voltage drop (Uf)\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSilicon controlled rectifier \u0026amp; triac measurements (turn on voltafe \u0026lt; 5 V, gate trigger current \u0026lt; 6 MA): Gate voltage\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eCapacitor measurements (25 PF - 100 MF): Capacity, loss factor (Vloss) \r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eResistor measurements (0,01 ? - 50 M?): Resistance\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eInductor measurements (10 uH - 1000 uH): Inductance value, DC resistance\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eBattery meansurements (0,01 - 4,5 V): Voltage value, positive \u0026amp; negative polarity\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eInput voltage measurements (0 - 16 V): Voltage value\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignal generator (sine wave): 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 50%\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignal generator (square wave): 1 - 100 kHz, 3,3 V, 50%\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignal generator (pulse wave): 1 - 100 kHz, 3,3 V, 0 - 100%\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignal generator (triangle wave): 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 50%\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignal generator (ramp wave): 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 0 - 100%\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eSignal generator (DC): 0 - 3,3 V\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eDS18B20 Measurements: Temperature\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eDHT11 Measurements: Temperature \u0026amp; humidity\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eInfrared decoding (nec protocoll): Display user \u0026amp; data code, display infrared waveform\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTesting functions: Continuity test, Voltages up to 40 V\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eTest probe connection on the device: Micro Coaxial Connector (MCX)\r\n\t\u003c\/li\u003e\n\u003cli\u003eDimensions: 180 x 150 x 77 mm\u003c\/li\u003e\n\u003c\/ul\u003e","brand":"Joy-It","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":56646436061519,"sku":"H63814","price":845.0,"currency_code":"DKK","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0983\/7432\/0463\/files\/image_1920_758eccf2-5371-48de-a15d-521620d7ecab.jpg?v=1771058728","url":"https:\/\/el-grossisten.dk\/products\/h63814-digital-oscilloskop-og-komponent-tester-128890","provider":"EL-GROSSISTEN ApS","version":"1.0","type":"link"}